模块化探头实现客观

、快速的测量

admin 2022-11-06 11:19:07 0次

ABIS II可用于检测各种缺陷类型。该系统可对凹痕
、凹凸、凹陷
、波纹、收缩、裂缝进行可靠的早期识别和分类
，它是生产钣金零件和白车身的完美质量控制仪器。用户尤其可从高精度和极短的循环时间中获益。ABIS II的模块化探头技术具有极高的灵活性。通过可选的集成对比探头
，它还可以用于检测对比度敏感的缺陷，例如
：粘合剂残留物


、划痕和污垢。几何测量蔡司AICell蔡司3D传感器利用多线三角测量原理，结合了2

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