用于材料检验、开发和分析的倒置显微镜利用倒置显微镜 Axio Observer 快速分析金相样品,即使在切换物镜和更换金相样品时也无需重新聚焦。Axio Observer 将蔡司的光学品质和自动化组件结合在一起,使系统更稳定,重复操作更简便。使用软件进行分析,比如非金属夹杂物和晶粒尺寸的分析测量。Axio Observer 是开放的成像平台:按照目前的需求进行配置,无论何时分析研究需求有变化时
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用于材料检验、开发和分析的倒置显微镜
利用倒置显微镜 Axio Observer 快速分析金相样品,即使在切换物镜和更换金相样品时也无需重新聚焦。Axio Observer 将蔡司的光学品质和自动化组件结合在一起,使系统更稳定,重复操作更简便。使用软件进行分析,比如非金属夹杂物和晶粒尺寸的分析测量。
Axio Observer 是开放的成像平台:按照目前的需求进行配置,无论何时分析研究需求有变化时,可根据新的需求升级系统。
3种主机可选
Axio Observer 有3种不同的主机,可根据不同的自动化要求进行选择。
观察方式的选择
明场和暗场中均匀以及无杂散光的成像背景 - 减少杂散光和色差。
配备偏光观察方式 - 利用固定式检偏器可360°旋转进行检测,或是利用具有全波段可旋转的旋转式检偏器。呈现各向异性样品的双反射和多色性,即使没有配备旋转载物台也可实现。
利用圆微分干涉观察方式 (C-DIC),一种利用圆偏光原理的偏光元件。
观察方式的选择
明场和暗场中均匀以及无杂散光的成像背景 - 减少杂散光和色差。
配备偏光观察方式 - 利用固定式检偏器可360°旋转进行检测,或是利用具有全波段可旋转的旋转式检偏器。呈现各向异性样品的双反射和多色性,即使没有配备旋转载物台也可实现。
利用圆微分干涉观察方式 (C-DIC),一种利用圆偏光原理的偏光元件。
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